長期工作壽命試驗簡介

                            長期工作壽命試驗簡介
我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的工作及環(huán)境條件下進行的壽命試驗稱為工作壽命試驗。工 作壽命試驗周期在1000小時以上者稱為長期工作壽命試驗。長期工作壽命試驗又分連 續(xù)工作壽命試驗和間斷工作壽命試驗兩種。
連續(xù)工作壽命試驗
這是傳統(tǒng)的壽命試驗方法。試驗在室溫下進行。它又可分為靜態(tài)工作壽命試驗和動 態(tài)工作壽命試驗。半導體器件的靜態(tài)試驗通常對器件加上zui大直流額定負荷。如對晶體 管規(guī)定在室溫(25士5)X：下加上集電極zui大耗散功率，分別在240、480、1000、2000、3000、 4000,5000小時后測憊電參數(shù)。這種試驗方法是由外加功耗使內(nèi)部結(jié)溫達到應有極限， 以檢驗器件的失效情況。通過此項試驗，可以了解產(chǎn)品在額定應力下工作的可靠性。動 態(tài)試驗是模擬器件實際工作狀態(tài)的試驗，所得結(jié)果反映了產(chǎn)品使用的可靠性。如對集成 電路規(guī)定在室溫下加額定電源電壓、額定負載和一定頻率信號的情況下進行壽命試驗。
間斷工作壽命試驗